- Fabricante: PVA TePla
- País:
- Número de artículo:
- Descripción: Included
SAM software control
Variable gain, gate width and gate delay setting during scanning, multiple gate settings
Thresholding, positive-negative, bipolar, peak phase detection: amplitude, mean, time (TOF)
Phase measurement with automatic delamination detection (selectable)
Picture reset function for easy reconstruction of PVA AS-SAM images
Automatic storage of instrument settings
Image parameter recall
Recipe management
Image resolution up to 20.000 x 20.000 pixel (depending on system memory)
Impedance measurement
gain, low noise, f>5 MHz
Stainless steel sample tray, 3 point leveling
- Última fecha de pedido: 01.06.2016
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